SRM 1929紅外高反射光譜標準標準品 (NIST) 主要用于校準鏡面反射儀在 1.0 µm 至 18.0 µm（555 cm-1 至 10,000 cm-1）的紅外 (IR) 光譜區(qū)域內(nèi)的反射比例。 SRM 1929 的一個單元由一個鏡面拋光鍍金銅盤組成，大約 3.0 毫米厚和 25.3 毫米直徑。

每個單元都刻有識別號；所刻數(shù)字的最后兩位數(shù)字對應于 NIST 分配的序列號。 SRM 1929 裝在陽極氧化鋁容器中運輸，帶有保護插件，其構(gòu)造方式不會撞擊鏡子的前表面。 SRM 正面朝下放置在容器的下半部分。認證反射率值：使用 NIST 傅里葉變換紅外分光光度計和紅外參考積分球 [1-5] 測量 SRM 1929。該儀器使用以下方法測量反射率絕對的技術。測量是作為波長的函數(shù)進行的。

SRM 1929 的每個單元都經(jīng)過獨立認證，可用于 1 µm 至 18 µm 的波長范圍。該 SRM 已通過鏡面反射認證，適用于近乎法線的幾何形狀、樣品上平均入射角在 0° 到 0° 之間的非偏振入射光30°，以及 f/1 和 f/16 之間的任何入射幾何形狀，以及從接近零立體角到全反射半球的任何收集幾何形狀。對于 SRM 1929 的每個單位，在每個波長下，反射率的認證值以絕對單位（0 到 1 之間）給出。被測量是作為波長 (µm) 或等效波數(shù) (cm-1 ) 函數(shù)測量的規(guī)則反射率。計量溯源性為 NIST 特別出版物 250-94 中所述的 NIST 紅外規(guī)則反射標度。本證書圖 1 中顯示的值僅對提及的范圍有效。

認證到期：

SRM 1929 的認證在規(guī)定的測量不確定度范圍內(nèi)有效期至 2023 年 12 月 31 日，前提是按照本證書中給出的說明處理和儲存 SRM（參見“處理、儲存和使用說明"） ）。如果 SRM 損壞、被污染、暴露在過分潮濕的環(huán)境中或以其他方式修改，則認證無效。

SRM 認證的維護：

NIST 將在其認證期間監(jiān)控此 SRM。如果在本證書到期前發(fā)生影響認證的實質(zhì)性技術變更，NIST 將通知購買者。注冊（見附件或在線注冊）將有助于通知。

處理和儲存：

SRM 1929紅外高反射光譜標準標準品 (NIST)  易碎，必須小心處理?？諝庵械奈⒘?、芳烴和不當處理可能會對表面狀況產(chǎn)生不利影響。應始終小心處理 SRM，以便除了用戶可能需要的任何支架外，任何東西都不能接觸裸露的金表面，包括手指。任何支架的設計都應使與支架的任何接觸都限制在遠離用于測量的區(qū)域的外邊緣。除了使用干凈的空氣燈泡輕輕去除其前表面的灰塵外，用戶不應嘗試任何其他清潔過程，因為此類操作可能會對金涂層產(chǎn)生不利影響。不使用時，SRM 1929 應保存在其原始容器中。對于存儲，建議將 SRM 保存在干燥柜中。

用途：

樣品反射率應在上述規(guī)定范圍內(nèi)使用接近垂直入射的非偏振光測量。使用偏振光以 45° 入射角測量樣品顯示，對于 s 或 p 偏振，反射率的變化高達 ± 0.005，但對于非偏振光，只有 0.0005。如果用于反射測量的光源或檢測器系統(tǒng)具有顯著的偏振含量或靈敏度，并且入射角大于 10°，則應采取一些措施使光去偏振或平均兩個正交線性偏振測量。